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日本日置 3504-40C測試儀
型號:日本日置 3504-40C測試儀
訂貨號:
廠家:日本
價格:面議
區域:北京
     日本日置 3504-40C測試儀

     日本日置 3504-40C測試儀

    封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

    · 高速測量2ms

    · 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷

    · 對應測試線,比側儀功能/觸發輸出功能

    · 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試

    · 3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試

    · 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率

    輸入用探頭/測試夾具,實體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件

    基本參數

    日本日置 3504-40C測試儀

    測量參數

    Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ)

    測量范圍

    C:0.9400pF~20.0000mF
    D:0.00001~1.99000

    基本確度

    (代表值)C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
    ※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各系數

    測量頻率

    120Hz, 1kHz

    測量信號電平

    恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1 V
    測量范圍:
    CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
    CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
    CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)

    輸出電阻

    5Ω(開路端子電壓模式,上述測量范圍以外)

    顯示

    發光二級管 (6行表示,滿量程計算器根據量程而定)

    測量時間

    典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
    ※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同

    機能

    4端子控制檢測功能(僅限3504-60),BIN測量(除去3504-40),觸發同時輸出,儲存測量條件,比較測量值的場強,平均值功能,Low-C抑制功能,鳴叫功能,控制用輸出入(EXT.I/O),RS-232C界面(標準裝備),GP-IB接口(3504-40除外)

    電源

    AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA

    體積及重量

    260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

    附件

    電源線×1,預備電源保險絲×1

     

    ,124??otH?oP?oold; font-size:10.5000pt; background:rgb(255,255,204); " >附件

    攜帶盒(1),背帶(1)

     

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