日本日置 IM3570阻抗分析儀
1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查
· 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
· LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
· 基本精度±0.08%的高精度測量
· 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
· 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
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主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。
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基本參數
日本日置 IM3570阻抗分析儀
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測量模式
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LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量
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測量參數
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Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
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測量量程
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100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定）
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顯示范圍
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Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
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基本精度
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Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
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測量頻率
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4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
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測量信號電平
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V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）
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輸出阻抗
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普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
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顯示
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彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
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測量時間
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0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）
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測量速度
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FAST/MED/SLOW/SLOW2
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其他功能
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DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能
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接口
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EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
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電源
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AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
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打印
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拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
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接口
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GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)
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電源
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AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
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體積和重量
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330W×119H×307Dmm，5.8kg
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附件
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電源線×1
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