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日本日置 3532-50 LCR測(cè)試儀
詳細(xì)說(shuō)明
日本日置 3532-50 LCR測(cè)試儀
搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀 · 測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整 · 可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái) 輸入用探頭/測(cè)試夾具,實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的,不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件 基本參數(shù)
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